芯片檢測自動化,島津X光透視顯神威
近日,持續的中美貿易戰之下,華為面臨美國全面打壓封鎖,或面臨無芯片可用的局面,芯片技術再次成為輿論焦點。芯片在電子產品上應用范圍甚廣,中國若能成功研制出高性能的國產芯片,將為中國高端制造業的發展奠定扎實的基礎。焊球陣列封裝 (BGA)作為一種高集成的芯片封裝形式,在封裝體基板的底部制作陣列焊球作為電路I/O端與PCB板互接,但若BGA存在焊點缺陷將嚴重影響封裝器件性能。
島津應對方案微焦點X射線檢查裝置
島津SMX-1000Plus微焦點X射線檢查裝置,有圖像采集編程功能(步進功能和教學功能)和自動判斷軟件。可用于電路板和電子元器件的缺陷檢查。由于可以獲得實時的X光透視圖像而不會損壞被檢查的樣品,因此通過X射線可快速檢測出有缺陷的元件和焊接缺陷。
SMX-1000 Plus微焦點X射線檢查裝置特色
操作界面簡潔,增大的透視圖像和外觀導航圖像提高了圖像的易讀性
可配備自動判斷軟件,自動檢查,一鍵操作,得到測量結果
非破壞性方式,在高放大倍數下,透視檢查基板及電子零部件細微的內部缺陷
使用壽命長,X射線管和平板檢測器經久耐用
SMX-1000 PlusX射線自動判斷軟件
對線路板檢查中的必檢項目BGA氣泡率和調節IC等焊料的面積比率做檢測,載物臺上的樣品按預先設置好的檢查位置和檢查條件,進行連續自動檢測,并通過設定的評判標準自動判斷,得出評斷結果。
操作流程簡單
系統通過樣品上方拍攝的外觀圖像對不合格品做標記,無須做復雜的參數設置,即可輕松判別。
切換程序簡便
離線X射線裝置和自動檢測軟件的組合,使得程序切換簡便。
(責任編輯:金利儀器lyh)